Логин:

Пароль:

  

Регистрация | Забыли пароль 

Главная

О компании | О проекте | РУБРИКАТОР | Услуги | Реклама | Прайс | Заказ | Контакты

ИНФОРМАЦИОННЫЙ

РЕСУРС (Поиск-помощь)

Каталоги ИННОВАЦИЙ на USB-флеш накопителе

БАНК ДАННЫХ

добавить

ИННОВАЦИИ

38690

ПРОДУКЦИЯ

4770

УСЛУГИ

2971

ПРЕДПРИЯТИЯ

добавить

16774

ПАРТНЕРЫ ИнфоНТР

 

ОБМЕН ССЫЛКАМИ

 

Печатные СМИ

 

ВЫСТАВКИ

 

САЙТЫ

добавить

635

КОММЕРЦИЯ

добавить

ПРОДАЖА

0

ПОКУПКА

0

БИЗНЕС

добавить

ПРОДАЖА

0

ПОКУПКА

0

ИННОВАЦИОННАЯ СФЕРА

Новости. Статьи.
Дайджесты. Проекты


РАЗРАБОТКИ, ТЕХНОЛОГИИ, НОВЫЕ ИЛИ МОДЕРНИЗИРОВАННЫЕ ИЗДЕЛИЯ, ПРОЦЕССЫ, СПОСОБЫ, МЕТОДЫ

I. Контекстный поиск: 

 
Введите слово или фразу для поиска

ЦИФРОВОЕ УСТРОЙСТВО АВТОМАТИКИ ЛИКВИДАЦИИ АСИНХРОННЫХ РЕЖИМОВ

Для выявления асинхронных режимов устройство содержит четыре выявительных органа: •угловой выявительный орган (УВО), •цикловой выявительный орган (ЦВО), •токовый выявительный орган (ТВО), •выявительный орган, фиксирующий переход генератора в асинхронный режим во ...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

 

 

Найдено 86 публикаций

МАШИНОСТРОЕНИЕ. ТЕХНОЛОГИИ МАШИНОСТРОЕНИЯ => Материаловедение => Исследование, испытание, анализ материалов. Дефектоскопия

1 2 3 4 [5] 6 7 8 9

Оборудование для исследований в области сверхпроводимости / OptistatSXM криостат

Optistat®SXM криостат, заполняемый жидким гелием
OptistatSXM криостат, наполняемый жидким гелием для исследований в области оптической спектроскопии при низких вибрациях, а также для наноразмерной микроскопии:
Минимальная температура 1,6 К
Минимальная вибрация – OptistatSXM позволяет проводить чувствительные к вибрациям исслед...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Доступ к полному описанию публикаций и контактным сведениям платный - через пароль доступа

Приобретайте КАТАЛОГИ на CD, в которых Вы найдете необходимые сведения.

Оборудование для исследований в области сверхпроводимости / OptistatTMAC-V криостат

OptistatTMAC-V низкотемпературный, "сухой" криостат для оптической спектроскопии.
OptistatTMAC-V низкотемпературный оптический криостат, использующий пульсационную газовую холодильную машину вместо жидкого хладагента для широкого спектра применений.
Минимальная температура 2,8 К; не требует ни жидкого гелия, ни жидкого азота
Ле...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Доступ к полному описанию публикаций и контактным сведениям платный - через пароль доступа

Приобретайте КАТАЛОГИ на CD, в которых Вы найдете необходимые сведения.

Оборудование для исследований в области сверхпроводимости / Optistat®CF оптический криостат

Optistat®CF оптический криостат, охлаждаемый непрерывным потоком жидкого гелия (LHe)
Криостат, охлаждаемый постоянным протоком жидкого гелия, с верхней загрузкой образцов. Криостат используется при проведении спектроскопических исследований, для которых необходимы:
Минимальная температура 2,3 К
Рабочее пространство для размещен...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Доступ к полному описанию публикаций и контактным сведениям платный - через пароль доступа

Приобретайте КАТАЛОГИ на CD, в которых Вы найдете необходимые сведения.

Оборудование для исследований в области сверхпроводимости / Optistat®CF-V оптический криостат

Optistat®CF-V оптический криостат, охлаждаемый потоком жидкого гелия (LHe).
Криостат, охлаждаемый постоянным протоком жидкого гелия. Криостат используется при проведении спектроскопических исследований, для которых необходимы:
Минимальная температура 2,3 К
Размер образца до 30 мм.
Размещение образца в вакуумной средеПолное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Доступ к полному описанию публикаций и контактным сведениям платный - через пароль доступа

Приобретайте КАТАЛОГИ на CD, в которых Вы найдете необходимые сведения.

Оборудование для исследований в области сверхпроводимости / Optistat®DN криостат

Optistat®DN криостат для оптической спектроскопии, охлаждаемый жидким азотом (LN2).
Optistat®DN предназначен для проведения экспериментов методами оптической спектроскопии при следующих условиях:
Минимальная температура 77 К
Быстрая смена образца благодаря верхней загрузке.
Размещение образца в газовой среде
Спос...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Доступ к полному описанию публикаций и контактным сведениям платный - через пароль доступа

Приобретайте КАТАЛОГИ на CD, в которых Вы найдете необходимые сведения.

Оборудование для исследований в области сверхпроводимости / Optistat®DN-V оптический криостат

Optistat®DN-V оптический криостат, охлаждаемый жидким азотом (LN2) с вакуумным размещением образца.
Минимальная температура 77 К
Образец находится в вакууме и крепится непосредственно на теплообменнике, замена образца занимает всего 1 час
Способен поддерживать температуру на уровне 77 К более 15 часов, что позволяет проводить д...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Доступ к полному описанию публикаций и контактным сведениям платный - через пароль доступа

Приобретайте КАТАЛОГИ на CD, в которых Вы найдете необходимые сведения.

Оптические профилометры серии Wyko NT

Оптическая интерференционная микроскопия - это бесконтактный метод быстрого получения топографии поверхности в 3D, позволяющий регистрировать особенности рельефа, начиная от шероховатости нанометрового масштаба до ступенек миллиметровой высоты. В оптических профилометрах (интерференционных микроскопах) ContourGT реализованы обе базовые измерительны...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Доступ к полному описанию публикаций и контактным сведениям платный - через пароль доступа

Приобретайте КАТАЛОГИ на CD, в которых Вы найдете необходимые сведения.

Прибор для измерения толщины PC-LEPTOSKOP 2050

PC LEPTOSKOP представляет собой комбинацию персонального компьютера, датчика и программного обеспечение STATUS (для DOS или для Windows).
Вы должны знать, что вы сами можете создать свой прибор для измерения толщины покрытий PC-LEPTOSKOP, превратив обычный персональный компьютер совместимый с IBM (никакие дополнительные платы не требуются), ...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Доступ к полному описанию публикаций и контактным сведениям платный - через пароль доступа

Приобретайте КАТАЛОГИ на CD, в которых Вы найдете необходимые сведения.

ПРИБОР ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФОРМАЦИЙ

Прибор предназначен для измерения поверхностных деформаций различных материалов, возникающих в результате приложения к ним силовых нагрузок. Позволяет снимать колебательные процессы в материалах в реальном масштабе времени.
Прибор представляет собой измерительную головку на основе датчика особо малых перемещений типа ТЛ-100 и электронный мик...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Приборы для электронно-зондового микроанализа / Метод дифракции отраженных электронов (EBSD / ДОЭ)

Метод используется при исследовании широкого круга кристаллических материалов для измерения микроструктур и микротекстур, ориентации кристаллитов, свойств границ зерен. В комбинации с анализом химического состава ДОЭ можно использовать для идентификации неизвестных фаз. Таким образом, ДОЭ дает полный обзор физических свойств материалов на уровне ми...Полное описание..>

О предприятии

Сайт предприятия

Доступ к полному описанию публикаций и контактным сведениям платный - через пароль доступа

Приобретайте КАТАЛОГИ на CD, в которых Вы найдете необходимые сведения.

1 2 3 4 [5] 6 7 8 9

 

АКТУАЛЬНЫЕ ИННОВАЦИОННЫЕ ПРОДУКТЫ

ИННОВАЦИОННЫЕ ПРОДУКТЫ

КАТАЛОГИ ИННОВАЦИЙ на USB-флеш

ИННОВАЦИОННАЯ СФЕРА

Copyright 2002-2020
ООО "Издательство "КОВЧЕГ и Ко" (Центр Научно-Технической Информации "ПРОМЕТЕЙ").
Все права защищены